진보된 리소그래피 및 자기-조립 디바이스들
서브-10nm 피치 패터닝을 포함하는 진보된 리소그래피 기법들 및 그로부터 결과하는 구조체들이 설명된다. 자기-조립 디바이스들 및 이들의 제조 방법들이 설명된다. Advanced lithography techniques including sub-10 nm pitch patterning and structures resulting therefrom are described. Self-assembled devices and their methods of fabrication are described....
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Format | Patent |
Language | Korean |
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01.08.2019
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Summary: | 서브-10nm 피치 패터닝을 포함하는 진보된 리소그래피 기법들 및 그로부터 결과하는 구조체들이 설명된다. 자기-조립 디바이스들 및 이들의 제조 방법들이 설명된다.
Advanced lithography techniques including sub-10 nm pitch patterning and structures resulting therefrom are described. Self-assembled devices and their methods of fabrication are described. |
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Bibliography: | Application Number: KR20197014746 |