신경 무결성 모니터링 시스템
수술 처치 동안 환자에 대해 위치되도록 구성된 자극 전극 어셈블리가 개시된다. 자극 전극은 신경의 일부에 접촉하는 연결부 또는 자립적(self-contained) 구성요소일 수 있다. 자극 전극은 신경의 무결성을 테스트하는 것을 돕기 위해 신호를 신경에 제공하고/제공하거나 신경으로부터 신호를 수신할 수 있다. A stimulation electrode assembly configured to be positioned relative to a patient for an operative procedure is disclosed. Th...
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Format | Patent |
Language | Korean |
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09.05.2019
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Summary: | 수술 처치 동안 환자에 대해 위치되도록 구성된 자극 전극 어셈블리가 개시된다. 자극 전극은 신경의 일부에 접촉하는 연결부 또는 자립적(self-contained) 구성요소일 수 있다. 자극 전극은 신경의 무결성을 테스트하는 것을 돕기 위해 신호를 신경에 제공하고/제공하거나 신경으로부터 신호를 수신할 수 있다.
A stimulation electrode assembly configured to be positioned relative to a patient for an operative procedure is disclosed. The stimulation electrode may be a connection or self-contained component to contact a portion of a nerve. The stimulation electrode may provide or receive a signal to and/or from the nerve to assist in testing integrity of the nerve. |
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Bibliography: | Application Number: KR20197009094 |