리소그래피 방법
리소그래피 장치는 방사선 빔의 횡단면에 패턴을 부여하여 패터닝된 방사선 빔을 형성할 수 있는 패터닝 장치 및 관련된 펠리클을 지지하도록 구성된 지지 구조체; 및 기판의 타겟 부분 상으로 패터닝된 방사선 빔을 투영하도록 구성된 투영 시스템을 포함하며, 지지 구조체는 하우징 내에 위치되어 있고, 압력 센서는 하우징 내에 위치되어 있다. A lithographic apparatus comprising a support structure constructed to support a patterning device and associated...
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Format | Patent |
Language | Korean |
Published |
27.03.2019
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Summary: | 리소그래피 장치는 방사선 빔의 횡단면에 패턴을 부여하여 패터닝된 방사선 빔을 형성할 수 있는 패터닝 장치 및 관련된 펠리클을 지지하도록 구성된 지지 구조체; 및 기판의 타겟 부분 상으로 패터닝된 방사선 빔을 투영하도록 구성된 투영 시스템을 포함하며, 지지 구조체는 하우징 내에 위치되어 있고, 압력 센서는 하우징 내에 위치되어 있다.
A lithographic apparatus comprising a support structure constructed to support a patterning device and associated pellicle, the patterning device being capable of imparting the radiation beam with a pattern in its cross-section to form a patterned radiation beam, and a projection system configured to project the patterned radiation beam onto a target portion of a substrate, wherein the support structure is located in a housing and wherein pressure sensors are located in the housing. |
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Bibliography: | Application Number: KR20197005131 |