복수의 방사선을 동시에 검출하기 위한 방사선 검출기

방사선을 검출하기 위한 시스템(102)은 방사선을 수신하기 위한 검출기의 어레이(106) 및 집적 회로(IC)(108)를 포함한다. 각각의 검출기는 특정 유형의 방사선을 검출하고 대응하는 검출기 출력 신호를 생성한다. IC는 각각의 검출기로부터 대응하는 검출기 출력 신호를 수신하여 방사선 검출을 나타내는 출력 신호를 생성한다. 검출기 어레이는 실리콘 기술 및 박막 기술 중 적어도 하나를 사용하여 구현된다. IC는 상보형 금속 산화물 반도체(CMOS) 기술 및 박막 기술 중 적어도 하나를 사용하여 구현된다. A system for d...

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Main Authors QUEVEDO LOPEZ MANUEL, GNADE BRUCE E, PRADHAN BHABENDRA K, MEJIA SILVA JESUS I
Format Patent
LanguageKorean
Published 22.03.2019
Subjects
MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
MEASURING
PHYSICS
TESTING
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Summary:방사선을 검출하기 위한 시스템(102)은 방사선을 수신하기 위한 검출기의 어레이(106) 및 집적 회로(IC)(108)를 포함한다. 각각의 검출기는 특정 유형의 방사선을 검출하고 대응하는 검출기 출력 신호를 생성한다. IC는 각각의 검출기로부터 대응하는 검출기 출력 신호를 수신하여 방사선 검출을 나타내는 출력 신호를 생성한다. 검출기 어레이는 실리콘 기술 및 박막 기술 중 적어도 하나를 사용하여 구현된다. IC는 상보형 금속 산화물 반도체(CMOS) 기술 및 박막 기술 중 적어도 하나를 사용하여 구현된다. A system for detecting radiations includes an array of detectors for receiving the radiations and an integrated circuit (IC). Each detector detects a specific type of radiation and generates a corresponding detector output signal. The IC receives the corresponding detector output signal from each detector and generates an output signal that is indicative of detecting the radiations. The array of detectors is implemented using at least one of a silicon technology and a thin film technology. The IC is implemented using at least one of a complementary metal oxide semiconductor (CMOS) technology and the thin film technology.
Bibliography:Application Number: KR20187029806