샘플 내의 입자를 특성화하는 홀로그래픽 방법

본 발명은, 샘플이 광원(11)에 의해 조명될 때, 이미지 센서(16)에 의해 획득된 샘플의 이미지(I) 또는 홀로그램에 기초하여, 샘플(10) 내에 함유된 입자(10b)를 홀로그래픽 특성화하는 방법에 관한 것이다. 홀로그램은, 재구성 평면에서 샘플에 의해 투과된 광파를 나타내는 기준 복합 이미지(A)를 참조하여 복합 이미지를 획득할 수 있도록 하는 홀로그래픽 재구성(holographic reconstruction)의 대상이다. 복수의 소위 2차 복합 이미지(A)를 얻을 수 있도록 홀로그램에 전파 연산자가 상기 기준 복합 이미지에...

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Main Authors ALLIER CEDRIC, ALI CHERIF ANAIS, BLANDIN PIERRE, ESTEBAN GEOFFREY, ISEBE DAMIEN, HERVE LIONEL
Format Patent
LanguageKorean
Published 16.11.2018
Subjects
CINEMATOGRAPHY
ELECTROGRAPHY
HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
HOLOGRAPHY
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHOTOGRAPHY
PHYSICS
TESTING
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Summary:본 발명은, 샘플이 광원(11)에 의해 조명될 때, 이미지 센서(16)에 의해 획득된 샘플의 이미지(I) 또는 홀로그램에 기초하여, 샘플(10) 내에 함유된 입자(10b)를 홀로그래픽 특성화하는 방법에 관한 것이다. 홀로그램은, 재구성 평면에서 샘플에 의해 투과된 광파를 나타내는 기준 복합 이미지(A)를 참조하여 복합 이미지를 획득할 수 있도록 하는 홀로그래픽 재구성(holographic reconstruction)의 대상이다. 복수의 소위 2차 복합 이미지(A)를 얻을 수 있도록 홀로그램에 전파 연산자가 상기 기준 복합 이미지에 적용되는데, 2차 복합 이미지로부터 상기 광파의 전파 축(Z)을 따라 샘플에 의해 투과된 광파의 광학 특성의 변화를 나타내는 프로파일이 결정된다. A method for holographic characterization of a particle contained in a sample, based on an image, or hologram, of the sample obtained by an image sensor when the sample is illuminated by a light source. The hologram is the subject of a holographic reconstruction, to obtain a reference complex image, representative of the light wave transmitted by the sample in a reconstruction plane. A holographic propagation operator is applied to the reference complex image, to obtain a plurality of secondary complex images, from which a profile is determined describing the change in an optical feature of the light wave transmuted by the sample along the axis of propagation of the light wave.
Bibliography:Application Number: KR20187030133