DEVICE AND METHOD FOR DETECTING POINTS OF FAILURES

• Main Authors: GUILLEY SYLVAIN, BOUE THEOOPHILE
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 12.10.2018
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

The present invention relates to a device and method for detecting points of failures. Provided are devices, methods, and computer program products for detecting points of failures (POF) in an integrated circuit (IC). The integrated circuit device is described by a structural description (2) comprising a plurality of elements, the elements represent cells and wires interconnecting the cells, the structural description further comprises portions representing a set of sensitive functional blocks (16), each sensitive functional block comprises one or more inputs, at least one sensitive output, and a set of elements interconnected so that the value of the sensitive output is a Boolean function of the input values of the sensitive functional block. The detection device (100) comprises: a selection unit (101) configured to iteratively select an n-tuple in at least portions of a netlist corresponding to the sensitive functional blocks; and a test unit (104) configured to test each selected n-tuple of elements. The test unit is configured to: modify the selected n-tuple of elements from an initial state to a testing state; and determine if the derivative of the Boolean function associated with each sensitive functional block is equal to zero. The detection device (100) is configured to detect that the n-tuple represents a POF of order n in an IC device if the derivative of the Boolean function associated with the sensitive functional block is equal to zero. 집적 회로(IC)에서 POF를 검출하기 위한 장치, 방법 및 컴퓨터 프로그램 제품이 제공된다. 집적 회로 장치는 다수의 요소를 포함하는 구조적 설명(2)에 의해 기술되며, 상기 요소는 셀들 및 셀들을 상호 연결하는 와이어를 나타내고, 구조적 설명은 민감한 기능 블록(16)의 세트를 나타내는 부분을 더 포함하고, 각각의 민감한 기능적 블럭은 하나 이상의 입력, 적어도 하나의 민감한 출력, 및 상기 민감한 출력의 값이 상기 민감한 기능 블록의 입력값의 불리언 함수가 되도록 상호 연결되는 요소들의 세트를 포함한다. 상기 검출 장치(100)는, - 상기 민감한 기능 블록들에 대응하는 상기 네트리스트의 적어도 일부분에서 n-튜플을 반복적으로 선택하도록 구성된 선택 유닛(101), 및 - 선택된 요소의 각각의 n-튜플을 테스트하도록 구성된 테스트 유닛(104)을 포함하되, 상기 테스트 유닛은, 상기 선택된 요소의 n-튜플을 초기 상태에서 테스트 상태로 수정하고; 각 민감한 기능 블록과 관련된 불리언 함수의 미분이 0인지 여부를 결정하도록 구성된다. 상기 검출 장치(100)는 상기 민감한 기능 블록과 관련된 불리언 함수의 미분이 0인 경우에 상기 n-튜플이 집적 회로(IC) 장치에서 차수 n의 POF를 나타내는 것을 검출하도록 구성된다.