A TEST SOCKET FOR SEMICONDUCTOR

The present invention relates to a socket for testing a semiconductor, and more particularly, to a socket capable of applying electrical characteristics of various shapes of semiconductor chip packages. To this end, the socket comprises: an upper case (10); a lower case (20); a socket body (30); a r...

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Main Author CHOI, BYOUNG CHUL
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 19.09.2018
Subjects
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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Summary:The present invention relates to a socket for testing a semiconductor, and more particularly, to a socket capable of applying electrical characteristics of various shapes of semiconductor chip packages. To this end, the socket comprises: an upper case (10); a lower case (20); a socket body (30); a retainer plate (40); and a guide pin (50), wherein a probe pin (60) for electrically testing a semiconductor chip is provided between the retainer plate (40) and the socket body (30), and a coupling member (70) for coupling the upper case (10) and the lower case (20) is further provided. 본 발명은 반도체 검사용 소켓에 대한 것으로, 다양한 형태의 반도체 칩 패키지의 전기적인 특성을 검사할 때 적용할 수 있는 소켓이다. 이를 위해, 상부케이스(10), 하부케이스(20), 소켓바디(30), 리테이너플레이트(40)로 구성되며, 가이드핀(50)이 더 구비된다. 또한, 상기 리테이너플레이트(40)와 소켓바디(30)의 사이에 반도체 칩의 전기적인 검사를 위한 프로브핀(60)이 더 구비된다. 또한, 상부케이스(10)와 하부케이스(20)의 결합을 위한 결합부재(70)가 더 구비된다.
Bibliography:Application Number: KR20170030407