Method of dynamic thermal management for electronic device

The present invention relates to a dynamic thermal management method of an electronic device which comprises the steps of: providing a local temperature by measuring a temperature of a local point of an electronic device; measuring a temperature of a reference point of the electronic device thermall...

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Main Authors YIM, MYUNG KYOON, IM, YUN HYEOK, KIM, WOOK, LEE, KYUNG SOO, LEE, KYOUNG MIN
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 18.09.2018
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Summary:The present invention relates to a dynamic thermal management method of an electronic device which comprises the steps of: providing a local temperature by measuring a temperature of a local point of an electronic device; measuring a temperature of a reference point of the electronic device thermally connected to the local point to provide a reference temperature; changing a target temperature corresponding to a threshold of the reference temperature on the basis of a local temperature; and controlling a power level of the electronic device on the basis of the target temperature. Accordingly, a temperature management of the electronic device can be efficiently performed by changing the target temperature corresponding to the threshold of the reference temperature with reference to the local temperature. Also, when the local temperature is relatively low, the target temperature is set to be relatively high so the performance of the electronic device is maximally guaranteed, and when the local temperature is relatively high, the target temperature is set to be relatively low so the stability of the electronic device is increased. 전자 장치의 동적 열 관리 방법은, 전자 장치의 로컬 지점의 온도를 측정하여 로컬 온도를 제공하는 단계, 상기 로컬 지점과 열적으로 연결된 상기 전자 장치의 기준 지점의 온도를 측정하여 기준 온도를 제공하는 단계, 상기 로컬 온도에 기초하여 상기 기준 온도의 한계치에 해당하는 목표 온도를 변화시키는 단계 및 상기 목표 온도에 기초하여 상기 전자 장치의 파워 레벨을 제어하는 단계를 포함한다. 로컬 온도를 참조하여 기준 온도의 한계치에 해당하는 목표 온도를 변화시킴으로써 전자 장치의 온도 관리를 효율적으로 수행할 수 있다. 상기 로컬 온도가 비교적 낮은 경우에는 상기 목표 온도를 상대적으로 높게 설정하여 전자 장치의 성능을 최대한 보장하고 상기 로컬 온도가 비교적 높은 경우에는 상기 목표 온도를 상대적으로 낮게 설정하여 전자 장치의 안정성을 추구할 수 있다.
Bibliography:Application Number: KR20170029747