측정 기판 및 측정 방법

작동 중 생산 기판을 처리하는 장치에 속하는 상태를 측정하기 위한 측정 기판으로서, 상기 측정 기판은, 상기 측정 기판이 상기 장치와 양립할 수 있도록 생산 기판의 치수와 유사한 치수를 갖는 본체; 상기 본체 내의 복수의 센서 모듈 - 각각의 센서 모듈은, 아날로그 측정 신호를 생성하도록 구성된 센서로서, 적어도 하나의 온도 센서 또는 스트레인 센서(strain sensor)를 포함하는 센서; 상기 아날로그 측정 신호로부터 디지털 측정 정보를 생성하도록 구성된 아날로그-디지털 변환기; 및 상기 디지털 측정 정보를 출력하도록 구성된...

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Main Authors BLOKS RUUD HENDRIKUS MARTINUS JOHANNES, NEEFS PATRICIUS JACOBUS, NIHTIANOV STOYAN, LAURENT THIBAULT SIMON MATHIEU, MAKINWA KOFI AFOLABI ANTHONY, VERMEULEN JOHANNES PETRUS MARTINUS BERNARDUS, DE LA ROSETTE JOHANNES PAUL MARIE
Format Patent
LanguageKorean
Published 25.07.2018
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Summary:작동 중 생산 기판을 처리하는 장치에 속하는 상태를 측정하기 위한 측정 기판으로서, 상기 측정 기판은, 상기 측정 기판이 상기 장치와 양립할 수 있도록 생산 기판의 치수와 유사한 치수를 갖는 본체; 상기 본체 내의 복수의 센서 모듈 - 각각의 센서 모듈은, 아날로그 측정 신호를 생성하도록 구성된 센서로서, 적어도 하나의 온도 센서 또는 스트레인 센서(strain sensor)를 포함하는 센서; 상기 아날로그 측정 신호로부터 디지털 측정 정보를 생성하도록 구성된 아날로그-디지털 변환기; 및 상기 디지털 측정 정보를 출력하도록 구성된 모듈 제어기 -; 및 상기 모듈 제어기들 각각으로부터 상기 디지털 측정 정보를 수신하고 상기 디지털 측정 정보를 외부 장치와 통신하도록 구성된 중앙 제어 모듈 을 포함한다. A measurement substrate for measuring a condition pertaining in an apparatus for processing production substrates during operation thereof, the measurement substrate including: a body having dimensions compatible with the apparatus; a plurality of sensor modules embedded in the body, each sensor module having: a sensor configured generate an analog measurement signal, an analog to digital converter to generate digital measurement information from the analog measurement signal, and a module controller configured to output the digital measurement information; and a central control module configured to receive the digital measurement information from each of the module controllers and to communicate the digital measurement information to an external device.
Bibliography:Application Number: KR20187017948