DISPLAY DEVICE

• Main Authors: LEE, SEUNG KYU, KIM, IN WOO, RYU, SAE HEE, PARK, KWANG SU, HWANG, SEONG JUN
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 28.05.2018
• Subjects: DEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH ISMODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THEDEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY,COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g.SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; FREQUENCY-CHANGING; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICS; PHYSICS; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF

The present invention relates to a display device capable of preventing a short between a test unit for performing a circuit wiring test and a common electrode. The display device includes: a first substrate and a second substrate including a display region and a non-display region; a thin film transistor arranged in the display region of the first substrate; a gate line and a data line connected to the thin film transistor; a test pad unit connected to the data line; a test line connecting the test pad unit to the data line; and a spacer arranged on the first substrate, wherein the spacer includes: a first spacer supporting the first substrate and the second substrate, a second spacer positioned in the display region of the first substrate and having a lower height than the first spacer, and a third spacer overlapping the test line and the test pad unit. The third spacer does not come in contact with the second substrate. 본 발명은 회로 배선의 테스트를 수행하기 위한 테스트부와 공통 전극 사이의 쇼트(short)를 방지할 수 있는 표시 장치에 관한 것으로, 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 제1 기판 및 제2 기판; 제1 기판의 표시 영역에 배치된 박막 트랜지스터; 박막 트랜지스터와 연결된 게이트 라인 및 데이터 라인; 데이터 라인과 연결된 테스트 패드부; 테스트 패드부와 데이터 라인을 연결하는 테스트 라인; 제1 기판 상에 배치된 스페이서; 스페이서는, 제1 기판 및 제2 기판을 지지하는 제1 스페이서; 제1 기판의 표시 영역에 위치하고, 제1 스페이서보다 낮은 높이를 갖는 제2 스페이서;및 테스트 라인 및 테스트 패드부와 중첩하는 제3 스페이서;를 포함하고, 제3 스페이서는 제2 기판과 접촉하지 않는다.