렌티큘러 렌즈 시트의 회전 위치 측정
렌티큘러 렌즈 시트(020)의 회전 위치를 측정하기 위한 시스템 및 방법이 제공되며, 이는 상기 렌티큘러 렌즈 시트의 표면의 적어도 일부에 광을 방출하는 광원(120)과, 상기 표면에 의해 반사(040)되거나 상기 표면을 통해 투과(042)되는 광의 이미지를 캡쳐하고 그럼으로써 광 패턴(060)을 나타내는 이미지를 획득하는 카메라(140)와, 그리고 상기 이미지 내의 광 패턴의 분석에 기초하여 이미지와 연관된 좌표계에 대한 렌티큘러 렌즈 시트의 회전 위치를 결정하는 프로세서(160)를 포함한다. 따라서, 렌티큘러 렌즈 시트의 회전...
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Format | Patent |
Language | Korean |
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10.05.2018
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Summary: | 렌티큘러 렌즈 시트(020)의 회전 위치를 측정하기 위한 시스템 및 방법이 제공되며, 이는 상기 렌티큘러 렌즈 시트의 표면의 적어도 일부에 광을 방출하는 광원(120)과, 상기 표면에 의해 반사(040)되거나 상기 표면을 통해 투과(042)되는 광의 이미지를 캡쳐하고 그럼으로써 광 패턴(060)을 나타내는 이미지를 획득하는 카메라(140)와, 그리고 상기 이미지 내의 광 패턴의 분석에 기초하여 이미지와 연관된 좌표계에 대한 렌티큘러 렌즈 시트의 회전 위치를 결정하는 프로세서(160)를 포함한다. 따라서, 렌티큘러 렌즈 시트의 회전 위치는 렌티큘러 렌즈 시트에 의해 반사되거나 투과된 광원으로부터 방출된 광의 캡쳐된 이미지의 분석으로부터 결정될 수 있다. 그러므로, 특별히 준비된 이미지들이나 마커들을 사용하는 것이 필요로 되지 않는다.
A system and method are provided for measuring a rotational position of a lenticular lens sheet (020), which involves a light source (120) emitting light onto at least part of a surface of the lenticular lens sheet, a camera (140) capturing an image of the light reflected (040) by, or transmitted (042) through, the surface, thereby obtaining an image showing a light pattern (060), and a processor (160) determining the rotational position of the lenticular lens sheet relative to a coordinate system associated with the image based on an analysis of the light pattern in the image. Accordingly, the rotational position of the lenticular lens sheet may be determined from an analysis of the captured image of the light emitted from the light source that is reflected or transmitted by the lenticular lens sheet. It is therefore not needed to use specially prepared images nor markers. |
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Bibliography: | Application Number: KR20187009351 |