Probe Card Module

• Main Authors: LAI HUNG WEI, CHEN JU HUNG
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 02.05.2018
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

According to the present invention, disclosed is a probe card module having increased probe card module operation performance. The probe card module comprises: a first driving unit which has a first output terminal wherein the first output terminal is connected to a first resistor; a second driving unit which has a second output terminal wherein the second output terminal is connected to a second resistor; an amplification unit which has a non-inverting input terminal, an inverting input terminal, and a third output terminal wherein the first resistor and the second resistor are connected to the non-inverting input terminal and the third output terminal is connected to the inverting input terminal; and a conductive probe connected to the third output terminal of the amplification unit. 본 발명은, 프로브 카드 모듈을 개시하고, 이는, 제1 출력단을 구비하고, 상기 제1 출력단은 제1 저항과 연결되는 제1 구동유닛; 제2 출력단을 구비하고, 상기 제2 출력단은 제2 저항과 연결되는 제2 구동유닛; 비반전 입력단, 반전 입력단, 및 제3 출력단을 구비하고, 상기 제1 저항 및 상기 제2 저항이 상기 비반전 입력단에 연결되며, 상기 제3 출력단이 상기 반전 입력단에 연결되는 증폭유닛; 및 상기 증폭유닛의 제3 출력단에 연결되는 도전성 프로브를 포함한다.