물질의 비접촉 감지를 위한 레퍼런스 스위치 아키텍처

• Main Authors: SIMON DAVID I, CHEN ROBERT, ARBORE MARK ALAN, KANGAS MIIKKA M, BISHOP MICHAEL J, HILLENDAHL JAMES
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 09.04.2018
• Subjects: COLORIMETRY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; MEASURING; PHYSICS; RADIATION PYROMETRY; TESTING

본 내용은 샘플링 계면에서 샘플(620) 내의 물질의 농도 및 유형을 측정하기 위한 시스템(600) 및 방법에 관한 것이다. 시스템(600)은 광원(602), 하나 이상의 광학체(606, 610, 612), 하나 이상의 변조기(634, 636), 레퍼런스(608), 검출기(630), 및 제어기(640)를 포함한다. 개시된 시스템 및 방법은 상이한 측정 광 경로들 사이의 하나 이상의 컴포넌트를 공유함으로써 광원, 하나 이상의 광학체, 및 검출기로부터 비롯된 드리프트를 해결할 수 있다. 추가적으로, 시스템은 광원과 샘플 또는 기준 재료 사이에 하나 이상의 변조기를 배치함으로써 상이한 유형의 드리프트를 분별하고 미광(stray light)으로 인한 잘못된 측정을 배제할 수 있다. 또한, 시스템은 검출기 픽셀 및 마이크로광학체를 샘플 내의 위치 및 깊이로 맵핑함으로써 샘플 내의 다양한 위치 및 깊이를 따라 물질을 검출할 수 있다. This relates to systems and methods for measuring a concentration and type of substance in a sample at a sampling interface. The system (1700) includes a light source (1702) configured to output light to a sample (1720);a first output region (1793) located at an interface of the system and configured to receive a first light from a first location within the sample;a second output region (1995) located at the interface of the system and configured to receive a second light from a second location within the sample;a detector (1730); andan optics unit (1712, 1719, 1723, 1729), comprising:first optics configured to receive the first light from the first output region and direct the first light from the first output region to the detector; andsecond optics configured to receive the second light from the second output region and direct the second light from the second output region to the detector.