SEMICONDUCTOR DEVICE SEMICONDUCTOR SYSTEM AND CONTROL METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE

• Main Authors: FUKUOKA KAZUKI, MURAYAMA AKIRA, UEMURA TOSHIFUMI, KITAJI YUKO, OKAZAKI YOSUKE
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 09.04.2018
• Subjects: BASIC ELECTRONIC CIRCUITRY; CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING; ELECTRICITY; PHYSICS; PULSE TECHNIQUE

The present invention is to provide a semiconductor device capable of precisely monitoring the minimum operating voltage of a monitored circuit, a semiconductor system, and a control method of a semiconductor device. According to one embodiment, the monitoring part of a semiconductor system (SYS1) comprises a voltage monitor (11) which is driven by a power supply voltage SVCC different from a power supply voltage (VDD) supplied to an internal circuit (10) as a target circuit, and monitors the power supply voltage (VDD), and a delay monitor (12) which is driven by the power supply voltage (VDD) and monitors the signal propagation time of a critical path in the internal circuit (10). [과제] 감시 대상 회로의 최저 동작 전압을 정밀하게 모니터하는 것이 가능한 반도체 장치, 반도체 시스템 및 반도체 장치의 제어 방법을 제공하는 것. [해결수단] 일 실시 형태에 의하면, 반도체 시스템(SYS1)의 모니터부는, 감시 대상 회로인 내부 회로(10)에 공급되는 전원 전압(VDD)와는 다른 전원 전압(SVCC)에 의해 구동되고, 전원 전압(VDD)을 모니터하는 전압 모니터(11)와, 전원 전압(VDD)에 의해 구동되고, 내부 회로(10)에 있어서의 크리티컬 패스의 신호 전파 시간을 모니터하는 지연 모니터(12)를 구비한다.