스펙트럼 현미경

일 구현예에서, 스펙트럼 현미경은 평면 렌즈를 갖는 기판 - 평면 렌즈는 축 초점 및 경사 초점을 포함하는 위상 프로파일을 포함함 - 과, 복수의 입자의 입자 신호를 여기시키기 위한 광원과, 검출기를 포함하되, 검출기는 광원에서 생성된 광을 평면 렌즈의 축 초점으로부터 수신하고, 입자의 여기된 신호의 스펙트럼 컬러 성분을 평면 렌즈의 경사 초점으로부터 수신한다. In one implementation, a spectral microscope may comprise a substrate with a planar lens, the pl...

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Main Authors ROGACS ANITA, AIETA FRANCESCO, SANTORI CHARLES M
Format Patent
LanguageKorean
Published 05.03.2018
Subjects
COLORIMETRY
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT
MEASURING
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
OPTICS
PHYSICS
RADIATION PYROMETRY
TESTING
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Summary:일 구현예에서, 스펙트럼 현미경은 평면 렌즈를 갖는 기판 - 평면 렌즈는 축 초점 및 경사 초점을 포함하는 위상 프로파일을 포함함 - 과, 복수의 입자의 입자 신호를 여기시키기 위한 광원과, 검출기를 포함하되, 검출기는 광원에서 생성된 광을 평면 렌즈의 축 초점으로부터 수신하고, 입자의 여기된 신호의 스펙트럼 컬러 성분을 평면 렌즈의 경사 초점으로부터 수신한다. In one implementation, a spectral microscope may comprise a substrate with a planar lens, the planar lens including a phase profile including an axial focus and an oblique focus, a light source to excite a signal of a particle among a plurality of particles, and a detector to receive light generated from the light source from the axial focus of the planar lens and a spectral color component of the excited signal of the particle from the oblique focus of the planar lens.
Bibliography:Application Number: KR20187002871