마이크로파 분석 또는 측정 기기를 위한 교정 장치 및 방법

• Main Authors: RAHIMINEJAD SOFIA, KILDAL PER SIMON, VASSILEV VESSEN
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 06.12.2017
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

본 발명은 분석 또는 측정 기기, 예를 들어 벡터 네트워크 분석기의 교정을 위한 교정 장치(100)에 관한 것이다. 교정 장치는 분석 또는 측정 기기를 연결시킬 다수의 교정기 커넥터 요소(20A, 20B)를 포함한다. 교정 장치는 복수의 교정 도파관 구조물(11, 11, 11, 11, 11)을 포함하는 플레이트 요소(10)를 더 포함한다. 플레이트 요소(10)에는 전도성 표면(12)이 제공되고, 각각의 교정기 커넥터 요소(20A, 20B) 및/또는 플레이트 요소의 전도성 표면은 주기적 구조물(27)을 갖는 표면을 포함하며, 이들은 그 사이에 갭(29)이 형성되도록 서로에 대해 배치되고, 도파관 인터페이스가 형성되어, 분석 또는 측정 기기의 도파관(33)에 연결된 교정기 커넥터 요소(20A, 20B) 도파관(23)을 교정 도파관 구조물(11, 11, 11, 11, 11)과 상호연결시킬 수 있다. 교정 장치는 플레이트 요소(10) 및/또는 교정기 커넥터 요소(20A, 20B)를 제어가능하게 이동시키기 위한 구동 유닛(13) 및 제어 기능부(14)를 더 포함하여, 상이한 교정 도파관 구조물(111, 11, 11, 11, 11)에 교정기 커넥터 요소(20A, 20B)를 자동 연결시킬 수 있다. An apparatus for calibration of an electronic instrument, such as a vector network analyzer, includes a number of calibrator connector elements for connection to the instrument, and a plate element including a plurality of calibration waveguide structures. The plate element has conductive surfaces, and the calibrator connector elements and conductive surfaces include periodic structures disposed with respect to each other such that gaps are formed between them. An interface enables interconnection of a waveguide of a calibrator connector element, a waveguide of the instrument, and a calibration waveguide structure. The apparatus includes a driving unit and controller for moving the plate element and/or the calibrator connector element to connect the calibrator connector element to different calibration waveguide structures.