향상된 필터링 특성을 갖는 전자 기기의 테스트 장치용 프로브 카드

• Main Author: MAGGIONI FLAVIO
• Format: Patent
• Language: Korean
• Published: 29.11.2017
• Subjects: CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRICITY; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; PRINTED CIRCUITS; TESTING

전자 장치의 테스트 장치용 프로브 카드(20)가 설명되며, 상기 프로브 카드(20)는 각각의 접촉 프로브(22)가 테스트중인 장치의 접촉 패드 상에 접촉하도록 구성된 적어도 하나의 접촉 팁(22A)을 구비하는, 복수의 접촉 프로브(22)를 수용하는 적어도 하나의 테스트 헤드(21)와, 적합한 전도성 트랙 또는 평면(26)뿐만 아니라, 상기 공간 트랜스포머(24) 및 PCB(25) 사이에 제공된 복수의 필터링 캐패시터(29)에 의해 연결되고 대향하는 측면 상에 만들어진 접촉 패드(24A, 24B) 사이 거리의 공간적 변형을 제공하도록 구성된 적어도 하나의 공간 트랜스포머(24)를 포함하며, 상기 필터링 캐패시터(29)는 몸체(29c) 및 상기 몸체(29c)의 측면에 배치된 전도성 부분(29)을 포함하고, 상기 전도성 부분(29r)은 상기 전도성 트랙 또는 평면(26)과 접촉한다. 적절하게, 상기 PCB(25)는 상기 필터링 캐패시터(29)의 상기 전도성 부분(29r)에 전기적으로 접촉하는 전도성 트랙 또는 평면(28')을 포함한다. A probe card for a testing apparatus of electronic devices comprises at least one testing head housing a plurality of contact probes, each contact probe having at least one contact tip abutting onto contact pads of a device under test, as well as at least one space transformer realizing a spatial transformation of the distances between contact pads made on its opposite sides and connected by means of suitable conductive tracks or planes, as well as a plurality of filtering capacitors provided between the space transformer and a PCB, which comprises direct conductive tracks or planes contacting conductive portions of the filtering capacitors.