테스트 장치 및 테스트 장치를 작동하기 위한 방법

테스트 장치(10)는 인덕터(71)를 갖는 표본(70)을 테스트 하기 위해 구성된다. 테스트 장치(10)는 인덕터(33)에 흐르는 전류의 전류 세기를 감소시키기 위한 제어 가능한 유닛(35)을 포함한다. A test device is configured for testing a specimen which has an inductor. The test device includes a controllable unit for reducing a current intensity of a current flowing in the induct...

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Main Authors KAUFMANN REINHARD, FLAX DIRK
Format Patent
LanguageKorean
Published 13.09.2017
Subjects
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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Summary:테스트 장치(10)는 인덕터(71)를 갖는 표본(70)을 테스트 하기 위해 구성된다. 테스트 장치(10)는 인덕터(33)에 흐르는 전류의 전류 세기를 감소시키기 위한 제어 가능한 유닛(35)을 포함한다. A test device is configured for testing a specimen which has an inductor. The test device includes a controllable unit for reducing a current intensity of a current flowing in the inductor.
Bibliography:Application Number: KR20177022597