METHOD OF TESTING THE RESISTANCE OF A CIRCUIT TO A SIDE CHANNEL ANALYSIS

• Main Author: THIEBEAULD DE LA CROUEE HUGUES
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 30.08.2017
• Subjects: ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE; ELECTRICITY; TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHICCOMMUNICATION

The present invention relates to a test method. The method includes: a step of obtaining a plurality of value sets (Ci) including values of a logical signal or physical quantity associated with the activity of a circuit (CT) to be tested by each value set when separate password tasks (OPRK), applied to the same confidential data, are executed; a step of counting the number (HT) of occurrences of values of a set for each value set; a step of calculating a partial result (VL) of the tasks in regard to partially available values (g) of the confidential data and each of the tasks; a step of calculating the sum (CH) of the number of occurrences by adding up the number of occurrences, corresponding to tasks which provide a partial result having the same value, when applied to the same possible values of the confidential data; and a step of analyzing the sum of the number of occurrences to determine a part of the confidential data. 본 발명은 테스트 방법에 관한 것으로서, 테스트 방법은 동일한 기밀 데이터(SD)에 적용되는 별개의 암호 작업들(OPRK)이 실행될 때, 각각의 값 세트가 테스트할 회로(CT)의 활동과 연관된 물리량 또는 논리 신호의 값들을 포함하는 복수의 값 세트(Ci)를 획득하는 단계, 각각의 값 세트마다, 세트의 값들의 발생 횟수(HT)를 카운팅하는 단계, 각 작업 및 기밀 데이터에서 일부 가능한 값들(g)에 대하여, 작업의 부분 결과(VL)를 계산하는 단계, 발생 횟수의 합(CH)을 계산하는 단계로서, 각 합은, 기밀 데이터 중 일부 가능한 동일한 값에 적용될 때, 동일한 값을 갖는 부분 작업 결과를 제공하는 작업들에 대응하는 발생 횟수를 더해서 구하는, 계산하는 단계, 및 기밀 데이터 중 일부를 판단하기 위하여 발생 횟수의 합을 분석하는 단계를 포함한다.