SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
A method includes the steps of: forming a gate stack on a middle portion of a semiconductor fin; and forming a first gate spacer on a sidewall of the gate stack. After the first gate spacer is formed, a template dielectric region is formed to cover the semiconductor fin. The method further includes...
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Format | Patent |
Language | English Korean |
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23.12.2016
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Summary: | A method includes the steps of: forming a gate stack on a middle portion of a semiconductor fin; and forming a first gate spacer on a sidewall of the gate stack. After the first gate spacer is formed, a template dielectric region is formed to cover the semiconductor fin. The method further includes the step of recessing the template dielectric region. After the recessing step, a second gate spacer is formed on the sidewall of the gate stack. The end portion of the semiconductor fin is etched to form a recess in the template dielectric region. A source/drain region epitaxially grows in the recess. Accordingly, the present invention can improve manufacturing efficiency and reduce manufacturing costs.
방법은 반도체 핀의 중간 부분 상에 게이트 스택을 형성하는 단계, 및 게이트 스택의 측벽 상에 제1 게이트 스페이서를 형성하는 단계를 포함한다. 제1 게이트 스페이서를 형성한 후에, 반도체 핀을 덮도록 템플릿 유전체 구역이 형성된다. 방법은 템플릿 유전체 구역을 리세스 가공하는 단계를 더 포함한다. 리세스 가공 후에, 게이트 스택의 측벽 상에 제2 게이트 스페이서를 형성한다. 반도체 핀의 단부가 에칭되어 템플릿 유전체 구역에 리세스를 형성한다. 리세스 내에서 소스/드레인 구역이 에피택셜 성장된다. |
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Bibliography: | Application Number: KR20150166588 |