CIRCUIT FOR MEASURING FLICKER NOISE AND METHOD OF USING THE SAME

• Main Authors: LI CHAO CHIEH, SHEEN RUEY BIN
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 26.10.2016
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

A circuit for measuring flicker noise includes a first section. The first section includes a plurality of first stages connected in series. The first section includes a first feedback switching element configured to selectively feedback an output value of the plurality of first stages to an input value of the plurality of first stages. The first section includes a first section connection switching element. The circuit for measuring flicker noise includes a second section connected to the first section. The second section includes a plurality of second stages connected in series. The first section connection switching element is configured to selectively connect the plurality of second stages to the plurality of first stages. The second section includes a second feedback switching element configured to selectively feedback an output value of the plurality of second stages to the input value of the plurality of first stages. 플리커 노이즈 측정 회로는 제1 섹션을 포함한다. 제1 섹션은 직렬로 연결되는 복수의 제1 스테이지를 포함한다. 제1 섹션은 복수의 제1 스테이지의 출력값을 복수의 제1 스테이지의 입력값으로 선택적으로 피드백하도록 구성되는 제1 피드백 스위칭 요소를 포함한다. 제1 섹션은 제1 섹션 연결 스위칭 요소를 포함한다. 플리커 노이즈 측정 회로는 제1 섹션에 연결되는 제2 섹션을 포함한다. 제2 섹션은 직렬로 연결되는 복수의 제2 스테이지를 포함하며, 상기 제1 섹션 연결 스위칭 요소는 복수의 제2 스테이지를 복수의 제1 스테이지에 선택적으로 연결하도록 구성된다. 제2 섹션은 복수의 제2 스테이지의 출력값을 복수의 제1 스테이지의 입력값으로 선택적으로 피드백하도록 구성되는 제2 피드백 스위칭 요소를 포함한다.