SELF-ALIGNED DOUBLE PATTERNING WITH SPATIAL ATOMIC LAYER DEPOSITION

피처 트리밍을 포함하는 자기-정렬 이중 패터닝 방법들이 제공된다. SADP 프로세스는 단일 배치 프로세싱 챔버에서 수행되고, 그러한 단일 배치 프로세싱 챔버에서, 기판은, 각각의 섹션이 독립적으로 프로세스 조건을 갖도록, 가스 커튼들에 의해 분리된, 프로세싱 챔버의 섹션들 사이에서 측방향으로 이동된다. Provided are self-aligned double patterning methods including feature trimming. The SADP process is performed in a single batch pr...

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Main Authors TANAKA KEIICHI, MARCUS STEVEN D, XIA LI QUN, NGUYEN VICTOR, LI NING, BALSEANU MIHAELA
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 26.09.2016
Subjects
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Summary:피처 트리밍을 포함하는 자기-정렬 이중 패터닝 방법들이 제공된다. SADP 프로세스는 단일 배치 프로세싱 챔버에서 수행되고, 그러한 단일 배치 프로세싱 챔버에서, 기판은, 각각의 섹션이 독립적으로 프로세스 조건을 갖도록, 가스 커튼들에 의해 분리된, 프로세싱 챔버의 섹션들 사이에서 측방향으로 이동된다. Provided are self-aligned double patterning methods including feature trimming. The SADP process is performed in a single batch processing chamber in which the substrate is laterally moved between sections of the processing chamber separated by gas curtains so that each section independently has a process condition.
Bibliography:Application Number: KR20167022219