STACKED GATE-ALL-AROUND FINFET AND METHOD FORMING THE SAME
A device comprises: a first semiconductor strip; a first gate dielectric encircling the first semiconductor strip; a second semiconductor strip overlapping the first semiconductor strip; and a second gate dielectric encircling the second semiconductor strip. The first gate dielectric is in contact w...
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Format | Patent |
Language | English Korean |
Published |
22.08.2016
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Summary: | A device comprises: a first semiconductor strip; a first gate dielectric encircling the first semiconductor strip; a second semiconductor strip overlapping the first semiconductor strip; and a second gate dielectric encircling the second semiconductor strip. The first gate dielectric is in contact with the second gate dielectric. A gate electrode has a portion over the second semiconductor strip, and additional portions on opposite sides of the first and second gate dielectrics and the first and second semiconductor strips. Therefore, source / drain contact resistance can be reduced.
디바이스는 제1 반도체 스트립, 제1 반도체 스트립을 에워싸는 제1 게이트 유전체, 제1 반도체 스트립과 오버랩하는 제2 반도체 스트립, 및 제2 반도체 스트립을 에워싸는 제2 게이트 유전체를 포함한다. 제1 게이트 유전체는 제2 게이트 유전체와 접촉한다. 게이트 전극은 제2 반도체 스트립 위의 일부분과, 제1 및 제2 게이트 유전체들과 제1 및 2 반도체 스트립들의 대향 측면들 상의 추가적인 부분들을 갖는다. |
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Bibliography: | Application Number: KR20150084160 |