MICROLITHOGRAPHY PROJECTION OBJECTIVE

물체면(object plane)에 배열된 패턴(pattern)을 이미지면(image plane)에 결상하기 위한 마이크로리소그래피 투영 대물 렌즈가 그러한 투영 대물 렌즈 내의 오류광 억제와 관련하여 기술된다.

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Bibliographic Details
Main Authors GRUNER TORALF, DODOC AURELIAN, PERRIN JEAN CLAUDE, EPPLE ALEXANDER, KAMENOV VLADIMIR, KRAEHMER DANIEL, KALLER JULIAN, OKON THOMAS, FELDMANN HEIKO, CONRADI OLAF
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 27.01.2016
Subjects
APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
CINEMATOGRAPHY
ELECTROGRAPHY
HOLOGRAPHY
MATERIALS THEREFOR
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
OPTICS
ORIGINALS THEREFOR
PHOTOGRAPHY
PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES,e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTORDEVICES
PHYSICS
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Summary:물체면(object plane)에 배열된 패턴(pattern)을 이미지면(image plane)에 결상하기 위한 마이크로리소그래피 투영 대물 렌즈가 그러한 투영 대물 렌즈 내의 오류광 억제와 관련하여 기술된다.
Bibliography:Application Number: KR20167000579