SYSTEM FOR CALCULATION OF MATERIAL PROPERTIES USING REFLECTION TERAHERTZ RADIATION AND AN EXTERNAL REFERENCE STRUCTURE

테라헤르츠 방사선을 해석하기 위한 시스템은 테라헤르츠 방사선의 펄스를 출력하게 구성된 테라헤르츠 송신기 및 테라헤르츠 송신기로부터 테라헤르츠 방사선의 펄스의 적어도 일부를 수용하게 구성된 테라헤르츠 수신기를 포함한다. 테라헤르츠 수신기는 테라헤르츠 수신기에 의해 수신된 방사선에 기초하여 신호를 출력하게 구성된다. A system for interpreting terahertz radiation includes a terahertz transmitter configured to output a pulse of terahertz rad...

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Main Authors ZIMDARS DAVID, WHITE JEFFREY S
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 15.07.2015
Subjects
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
MEASURING ANGLES
MEASURING AREAS
MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
PHYSICS
TESTING
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Summary:테라헤르츠 방사선을 해석하기 위한 시스템은 테라헤르츠 방사선의 펄스를 출력하게 구성된 테라헤르츠 송신기 및 테라헤르츠 송신기로부터 테라헤르츠 방사선의 펄스의 적어도 일부를 수용하게 구성된 테라헤르츠 수신기를 포함한다. 테라헤르츠 수신기는 테라헤르츠 수신기에 의해 수신된 방사선에 기초하여 신호를 출력하게 구성된다. A system for interpreting terahertz radiation includes a terahertz transmitter configured to output a pulse of terahertz radiation and a terahertz receiver configured to receive at least a portion of the pulse of radiation from the terahertz transmitter. The terahertz receiver is configured to output a signal based on the radiation received by the terahertz receiver.
Bibliography:Application Number: KR20157012742