Circuit for measuring a rising or falling time of high speed data and method thereof

• Main Authors: YOO, DU SIK, JANG, JIN MO, KIM, YEONG BU
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 10.10.2003
• Edition: 7
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

PURPOSE: A circuit and a method for measuring a rising or a falling time of a high speed of data is provided to measure the rising or the falling time of the high speed of data without utilizing an external measurement equipment. CONSTITUTION: A circuit(300) for measuring a rising or a falling time of a high speed of data includes a comparator(310), a reference signal generation circuit(320), an activation signal generation circuit(330) and a storage circuit(340). The comparator(310) receives the high speed data(TXN) from a first terminal and a predetermined reference signal(VREF) from a second terminal. And, output the output signal(OUTS) by comparing the level of the high speed data(TXN) with the reference signal(VREF) in response to the predetermined activation signal(ENS). 고속 데이터의 상승 또는 하강 시간 측정 회로 및 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 고속 데이터의 상승 또는 하강 시간 측정 회로는 비교 회로 및 저장 회로를 구비하는 것을 특징으로 한다. 비교 회로는 고속 데이터를 제 1 단자로 수신하고 소정의 기준 신호를 제 2 단자로 수신하여, 소정의 활성화 신호에 응답하여 상기 고속 데이터의 레벨과 상기 기준 신호의 레벨을 비교한 신호인 출력 신호를 출력한다. 기준 신호 발생 회로는 상기 기준 신호를 발생한다. 활성화 신호 발생 회로는 상기 활성화 신호를 발생한다. 저장 회로는 상기 출력 신호를 수신하여 저장하고 상기 고속 데이터의 상승 또는 하강 시간을 측정한다. 바람직하기로는, 상기 기준 신호는 계단 파형 신호로서 하나의 스텝의 주기가 T 이며 상기 기준 신호의 하이 레벨과 로우 레벨 사이를 N 스텝으로 나누는 것을 특징으로 한다. 여기서, 상기 주기 T 는 상기 고속 데이터의 M 비트 시간보다 T1 시간만큼 길며, 상기 T1은 가변적인 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따른 고속 데이터의 상승 또는 하강 시간 측정 회로 및 방법은 외부 계측기를 사용하지 않고, 고속 데이터의 상승 시간 및 하강 시간을 측정할 수 있는 장점이 있다.