UNIT WITH INSPECTION PROBE BLOCKS MOUNTED THEREON IN PARALLEL

• Main Authors: FURUMI TADASHI, OGUMA ATSUSHI, NAGASHIMA MASATOMO, OKUNO TOSHIO
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 16.05.2002
• Edition: 7
• Subjects: DEVICES OR ARRANGEMENTS, THE OPTICAL OPERATION OF WHICH ISMODIFIED BY CHANGING THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIUM OF THEDEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF THE INTENSITY,COLOUR, PHASE, POLARISATION OR DIRECTION OF LIGHT, e.g.SWITCHING, GATING, MODULATING OR DEMODULATING; FREQUENCY-CHANGING; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; NON-LINEAR OPTICS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICS; PHYSICS; TECHNIQUES OR PROCEDURES FOR THE OPERATION THEREOF; TESTING

PURPOSE: To provide a parallel loading unit of probe block for inspection, capable of loading or exchanging a plurality of probe blocks by inserting or withdrawing in a guide rail through a slider, adjusting position by moving (sliding) each probe block in the extension length of the guide rail, sharing a supporting base of a kind, when inserting and withdrawing probe blocks and adjusting position. CONSTITUTION: A plurality of probe blocks 3 for inspection, having many probes 2, are loaded in parallel on a support base 1, and the probes 2 of each probe block 3 are brought into contact with an electrode 5 of a display panel or a wiring circuit substrate 4, to inspect in the parallel loading unit of the probe block 3. A guide rail 7 is provided to the support base 1, each probe block 3 is slidably mounted on a slider 8 on the guide rail 7, and each probe block 3 for inspection is fixed to the support base 1 at a prescribed slide position in the constitution. 복수의 검사용 프로브 블록을 슬라이더를 통하여 가이드 레일에 넣거나 빼내어 탑재 또는 교환을 하고, 가이드 레일의 연장선 상에 있어서 각 프로브 블록을 이동(슬라이드)시켜 위치를 조정하고, 한 종류의 지지 베이스에 다양한 프로브 블록을 넣거나 빼내어 지지 베이스를 공용하고 또한 그에 대한 조정을 할 수 있는 검사용 프로브 블록의 병렬탑재 유닛을 제공하고자 하는 것이다. 지지 베이스1에 다수의 프로브2를 구비하는 복수의 검사용 프로브 블록3을 병렬로 탑재하여, 각 프로브 블록3의 프로브2를 디스플레이 패널 또는 배선회로기판4의 전극5에 접촉시켜 검사을 하도록 하는 프로브 블록3의 병렬탑재 유닛에 있어서, 상기 지지 베이스1에 가이드 레일7을 설치하고, 그 가이드 레일7에 상기 각 프로브 블록3을 슬라이더8를 통하여 슬라이딩 할 수 있도록 슬라이딩 결합시킴과 아울러 소정의 슬라이드 위치에 있어서 각 검사용 프로브 블록3을 지지 베이스1에 고정시키는 구성으로 한다.