CONTOURED SURFACE EDDY CURRENT INSPECTION SYSTEM

PURPOSE: An eddy current inspecting system is provided to inspect the contour surface of a workpiece by inserting a shim into a slot. CONSTITUTION: An eddy current inspection of a contoured surface(14) of a workpiece(12) is performed by forming a backing piece(18) of flexible, resilient material wit...

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Main Authors FULTON JAMES PAUL, BATZINGER THOMAS JAMES, PEROCCHI LEE CRANFORD, ROSE CURTIS WAYNE
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 04.05.2002
Edition7
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Summary:PURPOSE: An eddy current inspecting system is provided to inspect the contour surface of a workpiece by inserting a shim into a slot. CONSTITUTION: An eddy current inspection of a contoured surface(14) of a workpiece(12) is performed by forming a backing piece(18) of flexible, resilient material with a contoured exterior surface(26) conforming in shape to the workpiece contoured surface. The backing piece is preferably cast in place so as to conform to the workpiece of contoured surface. A flexible eddy current array probe(20) is attached to the contoured exterior surface of the backing piece such that the probe faces the contoured surface of the workpiece to be inspected when the backing piece is disposed adjacent to the workpiece. The backing piece is then expanded volumetrically by inserting at least one shim(32) into a slot(28) in the backing piece to provide sufficient contact pressure between the probe and the workpiece contoured surface to enable the inspection of the workpiece contoured surface to be performed. 가공편(12)의 굴곡진 표면(14)의 와류 검사는 가공편의 굴곡진 표면(14)의 형상이 부합하는 굴곡진 외부 표면(26)을 같은 것으로 가요성의 탄성적으로 항복성의 재료의 배킹 피스(18)를 형성함으로써 실행된다. 배킹 피스는 바람직하게 가공편의 굴곡진 표면에 부합하도록 제위치에서 주조된다. 가요성 와류 어레이 프로브(20)는 배킹 피스(18)의 굴곡진 외부 표면(26)에 부착됨으로써, 배킹 피스(18)가 가공편(12)에 인접하여 배치되었을 때, 프로브(20)는 검사할 가공편(12)의 굴곡진 표면(14)에 접한다. 다음에, 배킹 피스(18)는 배킹 피스(18)내의 슬롯(28)내로 적어도 하나의 심(32)을 삽입함으로써 부피적으로 팽창되어 프로브(20)와 가공편의 굴곡진 표면(14) 사이에 충분한 접촉압력을 제공함으로써 가공편의 굴곡진 표면의 조사를 가능하게 한다.
Bibliography:Application Number: KR20010066237