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Summary:PURPOSE: To provide a chemical amplification positive type resist material having high contrast between the velocity of alkali dissolution before exposure and that after exposure, high sensitivity, high resolution, a good pattern shape after exposure, superior etching resistance and superior adaptability to a process. CONSTITUTION: The resist material contains a high molecular compound having repeating units of formula (1) (where R1-R3 are each H or methyl; Z is a 2-10C linear, branched or cyclic alkylene; R4 is H, a 1-10C linear, branched or cyclic alkyl or an oxygen-containing 1-10C linear, branched or cyclic alkyl; R5 is a 5-20C tertiary alkyl; (p), (q) and (r) are each a positive number and p+q+r=1) and having a weight average molecular weight of 1,000-500,000. 본 발명은 하기 화학식 1로 표시되는 반복 단위를 갖는 중량 평균 분자량 1,000 내지 500,000의 고분자 화합물을 포함하는 레지스트 재료에 관한 것이다. 또한 본 발명의 레지스트 재료는 노광 전후의 알칼리 용해 속도 콘트라스트가 매우 높고, 고감도, 고해상성을 가지며, 노광 후의 패턴 형상이 양호하고, 우수한 에칭 내성 및 공정 적응성을 갖는 화학 증폭 포지티브형 레지스트 재료로서 바람직하다. <화학식 1> 식 중, R, R, R은 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, Z는 탄소수 2 내지 10의 직쇄상, 분지상 또는 환상의 알킬렌기를 나타내며, R는 수소 원자, 탄소수 1 내지 10의 직쇄상, 분지상 또는 환상의 알킬기, 또는 산소 원자를 포함하는 탄소수 1 내지 10의 직쇄상, 분지상 또는 환상의 알킬기를 나타내고, R는 탄소수 5 내지20의 3급 알킬기를 나타내며, p, q, r은 양수이고, p+q+r=1을 만족하는 수이다.
Bibliography:Application Number: KR20010048635