METHOD OF VERIFYING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT RELIABILITY AND CELL LIBRARY DATABASE

• Main Author: YAMAMOTO SHIGEHISA
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 25.07.2001
• Edition: 7
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; ELECTRICITY; INFORMATION STORAGE; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; SEMICONDUCTOR DEVICES; STATIC STORES; TESTING

PURPOSE: To provide a reliability verifying method for semiconductor integrated circuit, with which the reliability of a semiconductor integrated circuit in large scale can be verified without omission. CONSTITUTION: An intra-cell total input/output capacity sum Cio of a selected cell is found while utilizing the input load capacity and output load capacity of cells registered in a cell library data base 1A in a step S12 and inter-cell wiring capacity Cic is found in a step S13. Afterwards, output terminal load capacity COUT is found by adding the intra-cell total input/output load capacity sum Cio and the inter-cell wiring capacity Cic in a step S14. Then, a fault rate FOUT of inter-cell wiring is found on the basis of the output terminal load capacity COUT in a step S15, and a fault rate Fcell is provided by applying a calculation expression registered in the cell library data base 1A on the basis of the output terminal load capacity COUT in a step S16. Continuously, the sum of the fault rate Fcell and the fault rate FOUT is found as a total fault rate Ftotal in a step S17. 대규모의 반도체 집적 회로에 대해 검증 누설없이 신뢰성 검증을 행할 수 있는 반도체 집적 회로의 신뢰성 검증 방법을 얻는다. 단계 S12에서, 셀 라이브러리 데이터베이스(1A)에 등록된 셀의 입력 부하 용량 및 출력 부하 용량을 이용하여, 선택된 셀의 셀내 입출력 부하 용량 총합 Cio를 구하고, 단계 S13에서 셀간 배선 용량 Cic를 구한다. 그 후, 단계 S14에서, 셀내 입출력 부하 용량 총합 Cio와 셀간 배선 용량 Cic를 가산하여 출력 단자 부하 용량 COUT를 구한다. 그리고, 단계 S15에서, 출력 단자 부하 용량 COUT에 기초하여 셀간 배선의 고장율 FOUT를 구하고, 단계 S16에서 출력 단자 부하 용량 COUT에 기초하여, 셀 라이브러리 데이터베이스(1A)에 등록된 계산식을 적용하여 고장율 Fcell을 얻는다. 계속해서, 단계 S17에서, 고장율 Fcel1과 고장율 FOUT과의 합을 총고장율 Ftotal로서 구한다.