METHOD FOR PREDICTING CAUSES OF EQUIPMENT ABNORMALITIES AND PROVIDING PREDICTION RESULTS THROUGH PLATFORM

• Main Authors: SHINN JONGSUN, KIM TAEUK, KIM KYUYEON
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 22.07.2024
• Subjects: CALCULATING; COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS; COMPUTING; CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; CONTROLLING; COUNTING; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS; PHYSICS; REGULATING

본 개시의 일 실시예에 따라 컴퓨팅 장치의 하나 이상의 프로세서에 의해 수행되는, 장비의 이상 원인을 예측하기 위한 방법이 개시된다. 상기 방법은, 복수의 특징(feature)들을 포함하는 데이터를 획득하는 단계; 상기 획득된 데이터를 신경망 모델에 입력하여, 상기 데이터에 대한 출력 데이터를 산출하는 단계; 상기 신경망 모델에 입력된 상기 데이터 및 상기 출력 데이터에 기초하여 비정상 스코어(anomaly score)를 계산하는 단계; 상기 계산된 비정상 스코어에 대한 상기 데이터에 포함된 복수의 특징들 각각의 영향을 계산하는 단계; 및 상기 계산된 상기 복수의 특징들 각각의 영향에 기초하여 상기 데이터 중 이상 원인이 되는 특징(feature)을 예측하는 단계를 포함할 수 있다.