Fixture for memory module inspection

본 발명은 메모리 모듈 검사용 고정치구에 있어서, 상기 메모리카드(100)를 거치하는 카드거치부(200)와, 상기 카드거치부(200)를 장착하여 구동하는 구동몸체(300)와, 상기 구동몸체를 가이드 되도록 장착한 베이스(400)를 포함하며, 상기 카드거치부(200)가 장착된 구동몸체(300)는 상기 베이스(400)의 중앙에 배치되고, 상기 메모리카드(100)의 작동을 측정하는 메인피시비(500)는 상기 메모리카드(100)와 마주보도록 배치되어 상기 구동몸체(300)가 상기 매인피시비(500)로 향하거나 반대쪽으로 구동함으로써 상기...

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Main Authors CHOI JUNG KI, KIM JOON KI, KEUM DONG SHIK
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 08.02.2024
Subjects
INFORMATION STORAGE
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
STATIC STORES
TESTING
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Summary:본 발명은 메모리 모듈 검사용 고정치구에 있어서, 상기 메모리카드(100)를 거치하는 카드거치부(200)와, 상기 카드거치부(200)를 장착하여 구동하는 구동몸체(300)와, 상기 구동몸체를 가이드 되도록 장착한 베이스(400)를 포함하며, 상기 카드거치부(200)가 장착된 구동몸체(300)는 상기 베이스(400)의 중앙에 배치되고, 상기 메모리카드(100)의 작동을 측정하는 메인피시비(500)는 상기 메모리카드(100)와 마주보도록 배치되어 상기 구동몸체(300)가 상기 매인피시비(500)로 향하거나 반대쪽으로 구동함으로써 상기 메인피시비(500)와 상기 메모리카드(100)가 전기적으로 접촉되거나 탈락되며, 상기 메인피시비(500)와 상기 메모리카드(100)가 전기적으로 접촉한 상태에서 상기 메모리카드의 작동여부를 검사하는 것을 특징으로 하는 메모리 모듈 검사용 고정치구가 제공된다.
Bibliography:Application Number: KR20230105363