Phase calculation method of conformal array

The present invention provides a method for calculating the phase of a conformal array, comprising: a step of calculating a phase difference; a step of defining a second coordinate and a third coordinate; and a step of calculating an array coefficient of a conformal array. A unified phase calculatio...

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Main Authors JUNG YOUN KWON, PARK JIN SU, PARK DAE SUNG, HWANG KEUM CHEOL
Format Patent
LanguageEnglish
Korean
Published 14.07.2023
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Summary:The present invention provides a method for calculating the phase of a conformal array, comprising: a step of calculating a phase difference; a step of defining a second coordinate and a third coordinate; and a step of calculating an array coefficient of a conformal array. A unified phase calculation method using coordinates in a three-dimensional space based on a phase compensation method of a conformal array is provided. 본 발명은 소정의 유전율을 갖는 기판 상에 복수의 복사 소자가 일 방향 및 이와 직교하는 타 방향으로 각각 소정 간격 이격되어 마련되며, 상기 기판이 소정의 반지름(r)을 갖도록 구부러진 컨포멀 배열의 위상 계산 방법으로서, 상기 컨포멀 배열의 복사 소자의 제 2 좌표(TIFF112023006221493-pat00135.tif77)와 이에 대응되는 x축 상의 제 3 좌표(TIFF112023006221493-pat00136.tif77) 사이의 위상 차이(phase delayk)를 계산하는 과정과, 상기 컨포멀 배열의 복사 소자 사이의 간격(0.4λ 내지 1.0λ)에 따라 상기 제 2 좌표(TIFF112023006221493-pat00137.tif77)와 상기 제 3 좌표(TIFF112023006221493-pat00138.tif77)를 정의하는 과정과, 상기 제 3 좌표(TIFF112023006221493-pat00139.tif77)를 기준으로 위상 차이(phase delayk)를 고려하여 컨포멀 배열의 배열 계수를 계산하는 과정과, 복사 소자의 3차원 좌표축 상의 점(JPEG112023006221493-pat00140.jpg75)를 확장하여 상기 컨포멀 배열의 배열 계수를 계산하는 과정과, i번 째 복사 소자의 진폭(wi) 고려한 3차원 컨포멀 배열의 배열 계수를 계산하는 과정을 포함하는 컨포멀 배열의 위상 계산 방법을 제시한다.
Bibliography:Application Number: KR20230006648