APPARATUS FOR INSPECTING ALIGNMENT OF OPTICAL DEVICE

• Main Authors: LEE JISOO, PARK CHANYOUNG
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 02.03.2020
• Subjects: MEASURING; PHYSICS; TESTING; TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES; TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR

The present invention relates to an apparatus for inspecting alignment of an optical device. The apparatus for inspecting the alignment of the optical device according to the present invention includes: the optical device provided with a housing having a cylindrical optical path, a light source disposed in the housing to provide illumination light for inspection on the target surface, and an a collimating lens for converting the illumination light irradiated from the light source into parallel rays; and an alignment evaluation unit provided with a condenser lens for converting the parallel rays into convergent rays, and arranged in front of the optical device. 본 발명은 광학기구 정렬 검사장치에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 광학기구 정렬 검사장치는 원통 형상의 광경로를 구비한 하우징, 대상면에 검사용 조명광을 제공하기 위해 상기 하우징 내에 배치되는 광원, 상기 광원으로부터 조사된 조명광을 평행광선으로 변환하기 위한 시준렌즈가 마련된 광학기구; 및 상기 평행광선을 집속광선으로 변환하기 위한 집광렌즈가 마련되고, 상기 광학기구의 전방에 배치되는 정렬평가부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.