A spectroscopic system for electron-hole pair separation at hetero junction structure using ultrabroadband probe pulses and an analyzing method therewith
본 발명은, 스펙트로스코피 시스템 및 방법에 관한 것으로, 프로브 광으로서 원적외선, 중적외선, 근적외선, 가시광 대역을 포함하는 초광대역광원을 사용하는 광펌프-광프로브 측정방법을 통해, 이종접합에 의해 형성되는 새로운 전도대-가전자대 에너지 대역을 선택적으로 프로브하는 것이 가능하여, 전자 정공 분리현상을 직접적으로 측정할 수 있고, 이러한 초광대역 광원의 사용으로 다양한 물질의 광여기 특성에 적합한 광원을 선택적으로 입사시킴으로써 측정범위를 넓힐 수 있는 장점을 갖는다....
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Format | Patent |
Language | English Korean |
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21.07.2017
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Summary: | 본 발명은, 스펙트로스코피 시스템 및 방법에 관한 것으로, 프로브 광으로서 원적외선, 중적외선, 근적외선, 가시광 대역을 포함하는 초광대역광원을 사용하는 광펌프-광프로브 측정방법을 통해, 이종접합에 의해 형성되는 새로운 전도대-가전자대 에너지 대역을 선택적으로 프로브하는 것이 가능하여, 전자 정공 분리현상을 직접적으로 측정할 수 있고, 이러한 초광대역 광원의 사용으로 다양한 물질의 광여기 특성에 적합한 광원을 선택적으로 입사시킴으로써 측정범위를 넓힐 수 있는 장점을 갖는다. |
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Bibliography: | Application Number: KR20160032171 |