A CONTACT PROBE FOR THE TEST DEVICE

• Main Authors: JUN, JAE YOUNG, PARK, SANG DUCK
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 01.10.2015
• Subjects: MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; TESTING

The present invention relates to a contact probe for large current electrically connecting a contact point to be inspected of an object to be inspected, and a contact point of an inspecting circuit. The contact probe according to the present invention includes: a first plunger which is in contact with the contact point to be inspected; a second plunger which is in contact with the contact point to be inspected; a barrel for supporting at least one among the first plunger, and the second plunger to be slide movable; and a spring arranged between the first plunger and the second plunger in the barrel. In any one among the first plunger and the second plunger, an insulating member having an open hole for storing one end of the spring is arranged. The other among the first plunger and the second plunger includes a stamp for supporting the other end by storing the spring. A free end of the stamp places at least the open hole of the insulating member after completing spring compression according to an inspection. 본 발명은 피검사물의 피검사접점과 검사회로의 검사접점을 전기적으로 연결하는 대전류용 컨택트 프로브에 관한 것이다. 본 발명에 따른 컨택트 프로브는 상기 피검사접점에 접촉하는 제1플런저, 상기 피검사접점에 접촉하는 제2플런저, 상기 제1플런저 및 제2플런저 중 적어도 하나를 슬라이드 이동 가능하게 지지하는 배럴, 상기 배럴 내에서 상기 제1플런저 및 제2플런저 사이에 배치되는 스프링을 포함하며, 상기 제1플런저 및 제2플런저 중 어느 하나에 상기 스프링의 일단을 수용하는 개공을 가진 절연부재가 배치되며, 상기 제1플런저 및 제2플런저 중 다른 하나는 상기 스프링을 수용하면서 그 타단을 지지하는 스템부를 포함하며, 상기 스템부의 자유단은 검사에 따른 스프링 압축 완료후에 적어도 상기 절연부재의 개공 내에 위치하는 것을 특징으로 한다.