AUTO REFRESH CONTROL CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR DEVICE

• Main Author: CHUN, JUN-HYUN
• Format: Patent
• Language: English; Korean
• Published: 15.06.2000
• Edition: 7
• Subjects: INFORMATION STORAGE; PHYSICS; STATIC STORES

PURPOSE: An automatic refresh control circuit is provided to control an auto refresh control signal for package burn-in test for synchronous memory devices from outside synchronously to facilitate a package burn-in test. CONSTITUTION: The automatic refresh control circuit includes a burn-in signal generator(20), an asynchronous signal(iRAS), a synchronous buffer(50), a decoder(30), and a refresh control signal generator(60). The burn-in signal generator detects the burn-in test state to generate the burn-in signal. The asynchronous signal(iRAS) has the phase opposite to the command(RASB) from outside. The synchronous buffer synchronizes the command with the clock to generate a synchronous signal(sRAS). The decoder receives sRAS from the synchronous buffer and decodes the signal with the refresh signal. The refresh control signal generator(60) receives the output signal(REF) from the decoder which is synchronized with the burn-in signal(BI) from the burn-in signal generator and the iRAS from the synchronous buffer to generate an auto refresh control signal. 본 발명은 동기 메모리의 패키지 번인 테스트(Package Burn-In Test)를 위한 오토리프레쉬제어신호를 종래의 비동기 메모리와 같이 외부에서 비동기적으로 제어할 수 있도록 한 반도체 소자의 오토 리프레쉬 제어회로에 관한 것이다. 이를 위하여 본 발명은 번인 테스트 상태를 감지하여 번인신호를 발생하는 번인신호발생부와, 클럭에 의해 동기된 코멘드를 입력받아 리프레쉬 코멘드를 디코딩하는 디코딩부와, 외부로부터 입력되는 코멘드(RASB)의 위상이 반전된 비동기신호(iRAS)를 출력하는 동기버퍼부와, 상기 번인신호 발생부로부터 출력되는 번인신호와 동기 버퍼부로부터 출력되는 비동기신호에 의해 동기되고, 상기 디코딩부로부터 출력되는 신호(REF)를 입력하여 오토 리프레쉬 제어신호를 발생하는 리프레쉬 제어신호를 발생부로 구성된다. 상기와 같이 구성된 본 발명은 동기식 메모리의 패키지 번인 테스트를 용이하게 실시할 수 있는 효과가 있다.