SEMICONDUCTOR DEVICE
To improve the characteristics of a transistor.SOLUTION: A semiconductor device of an embodiment comprises: a first and a second gate electrode; a first spacer layer covering the first gate electrode and a second spacer layer covering the second gate electrode; a first liner layer covering the first...
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Format | Patent |
Language | English Japanese |
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25.08.2023
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Summary: | To improve the characteristics of a transistor.SOLUTION: A semiconductor device of an embodiment comprises: a first and a second gate electrode; a first spacer layer covering the first gate electrode and a second spacer layer covering the second gate electrode; a first liner layer covering the first gate electrode via the first spacer layer and a second liner layer covering the second gate electrode via the second spacer layer; a first contact extending from above the first liner layer toward below the first spacer layer and including a first conductive layer connected to the first gate electrode; and a second contact extending from above the second liner layer toward below the second spacer layer and including a second conductive layer connected to the second gate electrode. The first conductive layer is in contact with a side surface of the first spacer layer via a first insulation layer covering a side wall of the first conductive layer, and the second conductive layer is directly in contact with a side surface of the second spacer layer.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】トランジスタの特性を向上させること。【解決手段】実施形態の半導体装置は、第1及び第2のゲート電極と、第1及び第2のゲート電極をそれぞれ覆う第1及び第2のスペーサ層と、第1及び第2のスペーサ層を介して第1及び第2のゲート電極をそれぞれ覆う第1及び第2のライナ層と、第1のライナ層の上方から第1のスペーサ層の下方へと延び、第1のゲート電極に接続される第1の導電層を有する第1のコンタクトと、第2のライナ層の上方から第2のスペーサ層の下方へと延び、第2のゲート電極に接続される第2の導電層を有する第2のコンタクトと、を備え、第1の導電層は、第1の導電層の側壁を覆う第1の絶縁層を介して第1のスペーサ層と側面で接し、第2の導電層は、第2のスペーサ層と直接的に側面で接している。【選択図】図1 |
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Bibliography: | Application Number: JP20220021486 |