DISTANCE MEASUREMENT DEVICE, FIELD ANGLE CONTROL METHOD AND PROGRAM
To highly accurately track a measurement object in a distance measurement device, a field angle control method and a program.SOLUTION: A distance measurement device, when a measurement object exists within a scan angle range scanned with laser light from a two-dimensional MEMS mirror, extracts objec...
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Format | Patent |
Language | English Japanese |
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22.06.2022
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Summary: | To highly accurately track a measurement object in a distance measurement device, a field angle control method and a program.SOLUTION: A distance measurement device, when a measurement object exists within a scan angle range scanned with laser light from a two-dimensional MEMS mirror, extracts object data from a distance image, calculates a distance to the measurement object, calculates the azimuth angle of the light projection angle data and the measurement object to determine the position of the measurement object, calculates a set value of the scan angle range and a shift amount of the scan angle range on the basis of the determined azimuth angle and position, drives the two-dimensional MEMS mirror on the basis of the set value to control the scan of the laser light, obtains a histogram for a plurality of regions sliced in the fixed width along a second direction different from a first direction, sets the higher priority in the order closer to a movement route of the measurement object to the obtained histogram, and determines the positions of the measurement object from a peak of the histogram with the highest priority among the histograms whose peak is equal to or greater than a threshold.SELECTED DRAWING: Figure 10
【課題】距離測定装置、画角制御方法及びプログラムにおいて、高精度に測定対象をトラッキングすることを目的とする。【解決手段】距離測定装置は、2次元MEMSミラーからのレーザ光により走査された走査角度範囲内に測定対象が存在する場合に、距離画像から対象データを抽出し、測定対象までの距離を算出し、投光角度データと測定対象の方位角度を算出して、測定対象の位置を判定する。判定した方位角度及び位置に基づき、走査角度範囲と、走査角度範囲のシフト量の設定値を算出し、設定値に基づき、2次元MEMSミラーを駆動してレーザ光の走査を制御する。第1の方向とは異なる第2の方向に沿って一定幅でスライスした複数の領域についてヒストグラムを求める。求めたヒストグラムに、測定対象の移動ルートに近い順に高い優先度を設定し、ピークが閾値以上であるヒストグラムのうち最も優先度の高いヒストグラムのピークから測定対象の位置を判定する。【選択図】図10 |
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Bibliography: | Application Number: JP20200204682 |