INSPECTION DEVICE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND PROGRAM OF THE SAME
To provide a mechanism which suitably inspects positions of half-cut and a preprint image while guaranteeing the quality of a print image by image inspection.SOLUTION: An inspection device sets a feature point of a correct answer image being an image of an inspection object and a correct answer regi...
Saved in:
Main Authors | , , , |
---|---|
Format | Patent |
Language | English Japanese |
Published |
07.10.2021
|
Subjects | |
Online Access | Get full text |
Cover
Loading…
Summary: | To provide a mechanism which suitably inspects positions of half-cut and a preprint image while guaranteeing the quality of a print image by image inspection.SOLUTION: An inspection device sets a feature point of a correct answer image being an image of an inspection object and a correct answer region of a prescribed pattern formed in advance on a recording medium in which the image of the inspection object is formed. The inspection device extracts the set feature point from a read image obtained by reading the image formed on the recording medium by a printer. The inspection device specifies a first region on the read image being a region where a prescribed pattern should be formed and a second region other than the first region in the read image from the image position of the extracted feature point on the basis of a physical relation between the set feature point and the correct answer region. The inspection device performs inspection with a first algorithm to the first region and performs inspection with a second algorithm different from the first algorithm to the second region.SELECTED DRAWING: Figure 15
【課題】本発明は、印刷画像の品質を画像検査により保証しつつ、ハーフカットやプレプリント画像の位置も好適に検査する仕組みを提供する。【解決手段】本検品装置は、検品対象の画像である正解画像の特徴点と、検品対象の画像が形成される記録媒体に予め形成された所定のパターンの正解領域とを設定する。また、本検品装置は、記録媒体に対して印刷装置によって形成された画像を読み取った読取画像から、設定された特徴点を抽出する。また、本検品装置は、設定された特徴点と正解領域との位置関係に基づいて、抽出された特徴点の画像位置から、所定のパターンが形成されているべき領域となる読取画像上の第1領域と、前記読取画像のうち第1領域以外の第2領域とを特定する。さらに、本検品装置は、第1領域に対して第1アルゴリズムで検品を行い、第2領域に対して第1アルゴリズムとは異なる第2アルゴリズムで検品を行う。【選択図】 図15 |
---|---|
Bibliography: | Application Number: JP20200056620 |