METHOD FOR EXAMINING GAS BY MASS SPECTROMETRY AND MASS SPECTROMETER

• Main Authors: RUEDIGER REUTER, ANDREAS GORUS, MICHEL ALIMAN, ALEXANDER LAUE, VALERIE DERPMANN, HIN YIU ANTHONY CHUNG, MARTIN ANTONI, FEDOSENKO GENNADY, LEONID GORKHOVER
• Format: Patent
• Language: English; Japanese
• Published: 19.11.2020
• Subjects: BASIC ELECTRIC ELEMENTS; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS; ELECTRICITY; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

To provide a method for examining a gas (4) by mass spectrometry.SOLUTION: A method includes: ionizing the gas (4) for producing ions (4a, 4b); and storing, exciting and detecting at least some of the produced ions (4a, 4b) in an FT ion trap (2). In the method, producing and storing the ions (4a, 4b) in the FT ion trap (2) and/or exciting the ions (4a, 4b) prior to the detection of the ions (4a, 4b) in the FT ion trap (2) includes at least one selective IFT excitation, in particular a SWIFT excitation (10), which is dependent on the mass-to-charge ratio (m/z) of the ions (4a, 4b). The disclosure further relates to a mass spectrometer (1).SELECTED DRAWING: Figure 4 【課題】本発明は、質量分析によってガス（４）を検査するための方法に関する。【解決手段】この方法は、イオン（４ａ、４ｂ）を生成するためにガス（４）をイオン化するステップと、ＦＴイオントラップ（２）において生成されたイオン（４ａ、４ｂ）のうちの少なくとも一部を貯蔵し、励振し、検出するステップとを含む。この方法において、ＦＴイオントラップ（２）においてイオン（４ａ、４ｂ）を生成し貯蔵するステップおよび／またはＦＴイオントラップ（２）中のイオン（４ａ、４ｂ）の検出の前にイオン（４ａ、４ｂ）を励振するステップは、イオン（４ａ、４ｂ）の質量電荷比（ｍ／ｚ）に依存する少なくとも１つの選択ＩＦＴ励振、特に、ＳＷＩＦＴ励振（１０）を含む。本発明は、さらに、質量分析計（１）に関する。【選択図】図４