CREEP LIFE EVALUATION METHOD OF Ni-ALLOY

To provide a creep life evaluation method of Ni-alloy for evaluating a creep life of the Ni-alloy easier.SOLUTION: A creep life evaluation method of Ni-alloy includes: a crack rate calculation step (S10) of observing metallographic structure by collecting replica from Ni-alloy of an actual machine a...

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Main Authors YAMAZAKI NAOKI, NOMURA KYOHEI, SHIOTA YOSHINORI, KUBUSHIRO KEIJI
Format Patent
LanguageEnglish
Japanese
Published 27.08.2020
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Summary:To provide a creep life evaluation method of Ni-alloy for evaluating a creep life of the Ni-alloy easier.SOLUTION: A creep life evaluation method of Ni-alloy includes: a crack rate calculation step (S10) of observing metallographic structure by collecting replica from Ni-alloy of an actual machine and calculating a crack rate which is a ratio of cracks included in a crystal grain boundary in a crack initiation region; and a creep life evaluation step (S12) of evaluating a creep life of the Ni-alloy of the actual machine from the crack rate of the Ni-alloy of the actual machine. The calculation of the crack rate is performed defining the crack rate as R/P, where P represent the sum obtained by drawing a plurality of lines in the crack initiation region at a prescribed pitch, counting for each line the number of crystal grain boundaries crossing each line and the number of cracks on the crystal grain boundary at a position crossing each line, and summing the number of the crystal grain boundaries thus counted for each line; and R represents the sum obtained by summing the number of cracks on the crystal grain boundary counted for each line.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】Ni合金のクリープ寿命評価方法において、Ni合金のクリープ寿命をより簡易に評価することである。【解決手段】Ni合金のクリープ寿命評価方法は、実機のNi合金からレプリカを採取して金属組織観察し、クラック発生領域における結晶粒界を占めるクラックの割合であるクラック率を算出するクラック率算出工程(S10)と、実機のNi合金のクラック率から、実機のNi合金のクリープ寿命を評価するクリープ寿命評価工程(S12)と、を備え、クラック率の算出は、クラック発生領域に所定ピッチで複数の線を引き、各線毎に、各線と交差する結晶粒界の数と、各線と交差する位置にある結晶粒界上のクラックの数と、をカウントし、各線についてカウントした結晶粒界の数の合計をPとし、各線についてカウントした結晶粒界上のクラックの数の合計をRとしたとき、クラック率をR/Pで算出する。【選択図】図1
Bibliography:Application Number: JP20190021383