TEST MEASUREMENT DEVICE AND WAVEFORM SYNTHESIS METHOD

To synthesize waveforms using an asynchronous fixed rate DAC.SOLUTION: A test measurement device 100 has a DAC 112 having an output sample rate, receives a digital sample waveform and a reference clock, and outputs an analog waveform at the above sample rate. A waveform synthesis unit 104 receives a...

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Main Authors MARTIN GREGORY A, KNIERIM DANIEL G, PATRICK SATARZADEH, PICKERD JOHN J
Format Patent
LanguageEnglish
Japanese
Published 30.07.2020
Subjects
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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Summary:To synthesize waveforms using an asynchronous fixed rate DAC.SOLUTION: A test measurement device 100 has a DAC 112 having an output sample rate, receives a digital sample waveform and a reference clock, and outputs an analog waveform at the above sample rate. A waveform synthesis unit 104 receives an input waveform having a baud rate, and outputs a digital sample waveform having a baud rate lower than the sample rate of the DAC 112. An output port 118 outputs the analog waveform.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】非同期の固定レートＤＡＣを使って波形を合成する。【解決手段】試験測定装置１００には、出力サンプル・レートを有するＤＡＣ１１２があり、デジタル・サンプル波形と基準クロックを受けて、上記サンプル・レートでアナログ波形を出力する。波形合成部１０４は、ボー・レートを有する入力波形を受信し、ＤＡＣ１１２のサンプル・レートよりも低いボー・レートを有するデジタル・サンプル波形を出力する。出力ポート１１８は、アナログ波形を出力する。【選択図】図１
Bibliography:Application Number: JP20190239308