TEST MEASUREMENT DEVICE AND WAVEFORM SYNTHESIS METHOD
To synthesize waveforms using an asynchronous fixed rate DAC.SOLUTION: A test measurement device 100 has a DAC 112 having an output sample rate, receives a digital sample waveform and a reference clock, and outputs an analog waveform at the above sample rate. A waveform synthesis unit 104 receives a...
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Format | Patent |
Language | English Japanese |
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30.07.2020
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Summary: | To synthesize waveforms using an asynchronous fixed rate DAC.SOLUTION: A test measurement device 100 has a DAC 112 having an output sample rate, receives a digital sample waveform and a reference clock, and outputs an analog waveform at the above sample rate. A waveform synthesis unit 104 receives an input waveform having a baud rate, and outputs a digital sample waveform having a baud rate lower than the sample rate of the DAC 112. An output port 118 outputs the analog waveform.SELECTED DRAWING: Figure 1
【課題】非同期の固定レートDACを使って波形を合成する。【解決手段】試験測定装置100には、出力サンプル・レートを有するDAC112があり、デジタル・サンプル波形と基準クロックを受けて、上記サンプル・レートでアナログ波形を出力する。波形合成部104は、ボー・レートを有する入力波形を受信し、DAC112のサンプル・レートよりも低いボー・レートを有するデジタル・サンプル波形を出力する。出力ポート118は、アナログ波形を出力する。【選択図】図1 |
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Bibliography: | Application Number: JP20190239308 |