ANALYSIS DEVICE AND ANALYSIS SUPPORT METHOD

• Main Author: MANABE AKIRA
• Format: Patent
• Language: English; Japanese
• Published: 27.02.2020
• Subjects: INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES; MEASURING; PHYSICS; TESTING

To provide an analysis device for displaying both a first analysis result analyzed on the basis of knowhow data and a second analysis result analyzed on the basis of analysis information.SOLUTION: An analysis device includes: an analysis data input unit for receiving analysis data; an analysis unit for analyzing analysis data; an analysis information input unit for inputting, to the analysis unit, analysis information for analyzing the analysis data: a knowhow input unit for inputting knowhow data storing analysis information to the analysis unit; and a display unit for displaying both a first analysis result analyzed on the basis of knowhow data and a second analysis result analyzed on the basis of the analysis information.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】ノウハウデータに基づいて分析された第１の分析結果と、分析情報に基づいて分析された第２の分析結果の両方を表示する分析装置を提供する。【解決手段】分析データが入力される分析データ入力部と、分析データを分析する分析部と、分析データを分析するための分析情報を分析部に入力する分析情報入力部と、分析情報を蓄積したノウハウデータを分析部に入力するノウハウ入力部と、ノウハウデータに基づいて分析された第１の分析結果と、分析情報に基づいて分析された第２の分析結果の両方を表示する表示部とを備える分析装置を提供する。【選択図】図１