EVENT ANALYSIS DEVICE, EVENT ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM

• Main Authors: KATAHIRA MASAFUMI, UEDA YASUSHI, UMEDA HIROKI
• Format: Patent
• Language: English; Japanese
• Published: 09.01.2020
• Subjects: CALCULATING; COMPUTING; COUNTING; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING; PHYSICS

To provide an event analysis device, an event analysis method, and a program that can improve comprehensiveness of a sequence regarding verification of a verification object.SOLUTION: An event analysis device comprises a display control part displaying an image on a display, a reception part accepting an input of a user, and an information generation part generating information based on the input accepted by the reception part, the information generation part generates special abnormal condition information in which a basic element regarding assurance of a system of an analysis object accepted by the reception part, classification of the basic element, and feature information indicating a feature of the basic element are associated with each other, the display control part causes the display to display a special abnormal condition block diagram showing special abnormal state information.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】検証対象の検証に係るシーケンスの網羅性を向上させることができるイベント分析装置、イベント分析方法、およびプログラムを提供すること。【解決手段】イベント分析装置は、表示部に画像を表示する表示制御部と、ユーザの入力を受け付ける受付部と、前記受付部によって受け付けられた入力に基づいて、情報を生成する情報生成部とを備え、前記情報生成部は、前記受付部によって受け付けられた分析対象のシステムの保証に係る基本要素と、前記基本要素の分類と、前記基本要素の特徴を示す特徴情報と、前記基本要素に起こり得る異常状態とが互いに対応付けられた特別異常状態情報を生成し、前記表示制御部は、前記特別異常状態情報を示す特別異常状態構成図を前記表示部に表示させる。【選択図】図１