OPTICAL SPECTRUM LINE WIDTH COMPUTING METHOD, DEVICE AND PROGRAM

• Main Authors: MANABE TETSUYA, ONO SINGO, KOMO KUNIHIRO
• Format: Patent
• Language: English; Japanese
• Published: 24.10.2019
• Subjects: COLORIMETRY; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; MEASURING; PHYSICS; RADIATION PYROMETRY; TESTING

To provide an optical spectrum line width computing method, device and program with which it is possible to calculate, from an optical interference signal generated by an optical interferometer having a delay line, the spectrum line width of a laser to be measured on the basis of the phase of the optical interference signal having a longer delay time than the delay time of the delay line.SOLUTION: An optical spectrum line width measuring device 500 comprises: a Mach-Zehnder interferometer 510; an optical receiver 520 for receiving an optical interference signal emitted from the Mach-Zehnder interferometer 510; an A/D converter 530 for converting an analog electric signal outputted from the optical receiver 520 into a digital electric signal; and an arithmetic processing device 540 for processing the digital electric signal. The interferometer 510 has an optical delay fiber 511 provided on one arm waveguide and an optical frequency shifter 512 on the other arm waveguide. Two beams of light having a mutual delay difference τ are generated from the light emitted from a laser 200 to be measured, and these are multiplexed to generate an optical interference signal.SELECTED DRAWING: Figure 5 【課題】遅延線路を有する光干渉計により生成された光干渉信号から、遅延線路による遅延時間よりも長い遅延時間を持つ光干渉信号の位相に基づき被測定レーザのスペクトル線幅を算出できる光スペクトル線幅演算方法、装置およびプログラムを提供すること。【解決手段】光スペクトル線幅測定装置５００は、マッハツェンダ干渉計５１０と、マッハツェンダ干渉計５１０から出射された光干渉信号を受光する受光器５２０と、受光器５２０から出力されたアナログ電気信号をデジタル電気信号に変換するＡ／Ｄ変換器５３０と、デジタル電気信号を処理する演算処理装置５４０とを備える。干渉計５１０は、一方のアーム導波路上には光遅延ファイバ５１１が設けられ、他方のアーム導波路上には光周波数シフタ５１２が設けられている。被測定レーザ２００から出射された光から互いに遅延差τを持つ２つの光を生成し、それらを合波して光干渉信号を生成する。【選択図】図５