QUALITY CHECK DEVICE, QUALITY CHECK METHOD AND PROGRAM

To provide a quality check device, a quality check method, and a program that can check the quality of input data to a processing module.SOLUTION: A device outputs input data and first metadata indicating the attribute relating to the quality of the input data to a processing module. The quality che...

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Main Authors YAMATO TETSUJI, YOSHIKAWA TAIJI
Format Patent
LanguageEnglish
Japanese
Published 03.10.2019
Subjects
CALCULATING
COMPUTING
COUNTING
ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
ELECTRICITY
PHYSICS
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Summary:To provide a quality check device, a quality check method, and a program that can check the quality of input data to a processing module.SOLUTION: A device outputs input data and first metadata indicating the attribute relating to the quality of the input data to a processing module. The quality check device includes a first acquisition unit and a check unit. The first acquisition unit acquires the first metadata. The check unit checks the quality of the input data on the basis of the first metadata.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】処理モジュールへの入力データの品質をチェック可能な品質チェック装置、品質チェック方法及びプログラムを提供する。【解決手段】デバイスは、入力データと、入力データの品質に関する属性を示す第１メタデータとを処理モジュールに出力するように構成されている。品質チェック装置は、第１取得部と、チェック部とを備える。第１取得部は、第１メタデータを取得するように構成されている。チェック部は、第１メタデータに基づいて、入力データの品質をチェックするように構成されている。【選択図】図１
Bibliography:Application Number: JP20190070991