SEMICONDUCTOR DEVICE, LOAD DRIVING SYSTEM, AND CURRENT DETECTION METHOD FOR INDUCTOR CURRENT

• Main Author: TAJIMA HIDEYUKI
• Format: Patent
• Language: English; Japanese
• Published: 08.08.2019
• Subjects: CONTROLLING; MEASURING; MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES; PHYSICS; REGULATING; SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES; TESTING

To provide a semiconductor device capable of detecting inductor current with high accuracy.SOLUTION: In one semiconductor chip, driving transistors (QH, QL), current sensors ISEN(h/l), and temperature sensors TSENd (h/l) for detecting temperatures in a driver region AR1 are arranged in the driver region AR1. In the peripheral circuit region AR2, a current detection circuit CS, an analog-to-digital converter ADCc, and a temperature sensor TSENc for detecting the temperature in the peripheral circuit region AR2 are arranged. The correction circuit section CALU corrects the digital detection voltage DVIS from the analog-to-digital converter ADCc based on the detection results of the temperature sensors TSENd(h/l) and the temperature sensor TSENc.SELECTED DRAWING: Figure 3 【課題】インダクタ電流を高精度に検出することが可能な半導体装置を提供する。【解決手段】一つの半導体チップにおいて、ドライバ領域ＡＲ１には、駆動用トランジスタ（ＱＨ，ＱＬ）と、電流センサＩＳＥＮ（ｈ／ｌ）と、ドライバ領域ＡＲ１の温度を検出する温度センサＴＳＥＮｄ（ｈ／ｌ）とが配置される。周辺回路領域ＡＲ２には、電流検出回路ＣＳと、アナログディジタル変換器ＡＤＣｃと、周辺回路領域ＡＲ２の温度を検出する温度センサＴＳＥＮｃとが配置される。補正回路部ＣＡＬＵは、温度センサＴＳＥＮｄ（ｈ／ｌ）の検出結果と、温度センサＴＳＥＮｃの検出結果とに基づいて、アナログディジタル変換器ＡＤＣｃからのディジタル検出電圧ＤＶＩＳを補正する。【選択図】図３