PRODUCTION METHOD OF PZT THIN FILM LAMINATE

To provide a technology capable of improving a dielectric voltage and a fatigue-resistant characteristic under a high temperature environment, concerning a PZT thin film layer formed by sputtering.SOLUTION: A substrate having a platinum electrode layer 5 provided through a TiOlayer 4 on a silicon su...

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Main Authors TSUYUKI TATSURO, JINBO TAKETO, KOBAYASHI HIROKI
Format Patent
LanguageEnglish
Japanese
Published 04.04.2019
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Summary:To provide a technology capable of improving a dielectric voltage and a fatigue-resistant characteristic under a high temperature environment, concerning a PZT thin film layer formed by sputtering.SOLUTION: A substrate having a platinum electrode layer 5 provided through a TiOlayer 4 on a silicon substrate 10, and a buffer layer 6 provided on the platinum electrode layer 5 is prepared. A PZT thin film layer 7 is formed by sputtering on the buffer layer 6 by using a PZT target doped with yttrium. Preferably, a doping amount of yttrium in the PZT target is 0.1 atom% or more and 5 atm% or less to PZT 100 atom%.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】スパッタリングによって形成されるPZT薄膜層において、高温環境下における絶縁耐圧及び耐疲労特性を向上させる技術を提供する。【解決手段】シリコン基板10上に、TiOX層4を介して設けられた白金電極層5と、白金電極層5上に設けられたバッファ層6とを有する基板を用意する。イットリウムをドープしたPZTターゲットを用い、バッファ層6上にスパッタリングによってPZT薄膜層7を形成する。PZTターゲットにおけるイットリウムのドープ量は、PZT100atm%に対して0.1atm%以上5atm%以下とすることが好ましい。【選択図】 図1
Bibliography:Application Number: JP20170176506