METHOD FOR MAKING CHEMICAL MECHANICAL POLISHING LAYER HAVING IMPROVED UNIFORMITY
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a chemical mechanical polishing (CMP polishing) layer for polishing a substrate such as a semiconductor wafer.SOLUTION: The method for manufacturing a chemical mechanical polishing layer includes: a step of providing a composition of a plur...
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Format | Patent |
Language | English Japanese |
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29.11.2018
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Summary: | PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a chemical mechanical polishing (CMP polishing) layer for polishing a substrate such as a semiconductor wafer.SOLUTION: The method for manufacturing a chemical mechanical polishing layer includes: a step of providing a composition of a plurality of liquid-filled microelements having a polymeric shell; a step of classifying the composition by centrifugal air classification to remove fine powders and coarse particles to thereby produce liquid-filled microelements having a density of 800 to 1,500 g/liter; and a step of forming the CMP polishing layer by (i) heating the classified liquid-filled microelements to be converted into gas-filled microelements, then mixing the gas-filled microelements with a liquid polymer matrix forming material and casting or molding the resulting mixture to form a polymeric pad matrix, or (ii) mixing the classified liquid-filled microelements directly with the liquid polymer matrix forming material and casting or molding.SELECTED DRAWING: None
【課題】半導体ウェーハなどの基板を研磨するためのケミカルメカニカルポリッシング(CMP研磨)層を製造する方法。【解決手段】ポリマーシェルを有する複数の液体充填マイクロエレメントの組成物を提供するステップ、遠心分離風力分級により組成物を分級して微粉及び粗粒子を除去し、密度が800〜1500g/リットルの液体充填マイクロエレメントを製造するステップ、及び(i)分級された液体充填マイクロエレメントを加熱することにより気体充填マイクロエレメントに変換し、次いでこれを液体ポリマーマトリックス形成材料と混合し、得られた混合物をキャスティング若しくは成形してポリマーパッドマトリックスを形成すること、又は(ii)分級された液体充填マイクロエレメントを液体ポリマーマトリックス形成材料と直接混合し、キャスティング若しくは成形することによって、CMP研磨層を形成するステップを含む方法を提供する。【選択図】なし |
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Bibliography: | Application Number: JP20180075519 |